Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía - IGME - CSIC

Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía

Categoría: SEM

Variantes de la prestación

Sesión supervisada

Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía

Unidad de Microscopía Aplicada/Visión Artificial

Presupuesto en: €/ hora

Sesión supervisada parcialmente

Contactar con el Laboratorio para consultar condiciones de utilización

Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía

Unidad de Microscopía Aplicada/Visión Artificial

Presupuesto en: €/ hora

Sesión sin supervisión

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Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía

Unidad de Microscopía Aplicada/Visión Artificial

Presupuesto en: €/ hora

Envío de resultados

Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía

Unidad de Microscopía Aplicada/Visión Artificial

Presupuesto en: €/ muestra

Recubrimiento de C muestra

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Unidad de Microscopía Aplicada/Visión Artificial

Presupuesto en: €/ muestra

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